火電高溫主蒸汽閥密封面平面度的白光干涉測(cè)量研究
發(fā)布時(shí)間:
2026-05-16
作者:
新啟航半導(dǎo)體有限公司

摘要

火電系統(tǒng)中,高溫主蒸汽閥密封面平面度直接決定蒸汽密封性能,其長(zhǎng)期處于高溫高壓蒸汽工況下,易發(fā)生熱變形與磨損,導(dǎo)致平面度劣化、蒸汽泄漏。白光干涉測(cè)量技術(shù)憑借非接觸、納米級(jí)精度優(yōu)勢(shì),可精準(zhǔn)表征密封面平面度參數(shù)。本文基于火電高溫工況特點(diǎn),闡述密封面平面度劣化影響因素,重點(diǎn)研究白光干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用方法,為高溫主蒸汽閥密封面管控提供技術(shù)支撐。

關(guān)鍵詞

火電;高溫主蒸汽閥;密封面;平面度;白光干涉測(cè)量

1 引言

高溫主蒸汽閥是火電發(fā)電機(jī)組的核心部件,承擔(dān)高溫高壓蒸汽的控制與密封功能,其密封面平面度若存在偏差或劣化,會(huì)引發(fā)蒸汽泄漏,降低發(fā)電效率且存在安全隱患。傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法易損傷密封面、精度不足,難以適配高溫工況下的測(cè)量需求。白光干涉測(cè)量技術(shù)可非接觸捕捉密封面微觀形貌,實(shí)現(xiàn)平面度精準(zhǔn)量化,成為該類閥門平面度測(cè)量的優(yōu)選方案。

2 火電高溫主蒸汽閥密封面平面度劣化因素

火電高溫主蒸汽閥密封面平面度劣化主要受三大因素影響:一是高溫?zé)嶙冃危L(zhǎng)期處于300℃以上高溫環(huán)境,密封面材料熱脹冷縮不均,導(dǎo)致平面度偏差增大;二是蒸汽沖蝕,高速流動(dòng)的高溫蒸汽攜帶雜質(zhì),持續(xù)沖刷密封面,形成微小劃痕與凹陷;三是材料疲勞,長(zhǎng)期高溫高壓作用下,密封面材料性能衰減,加劇平面度劣化,三者協(xié)同作用縮短閥門使用壽命。

3 白光干涉測(cè)量在密封面平面度中的應(yīng)用研究

白光干涉測(cè)量基于光干涉原理,通過(guò)分光鏡將準(zhǔn)直光束拆分為測(cè)量光與參考光,兩束反射光匯聚形成干涉條紋,利用白光相干長(zhǎng)度短的特性,掃描密封面并重構(gòu)三維形貌,依據(jù)ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)量化平面度參數(shù)。

針對(duì)高溫主蒸汽閥密封面測(cè)量,優(yōu)化測(cè)量工藝:采用耐高溫光學(xué)組件,規(guī)避高溫對(duì)測(cè)量精度的影響;非接觸掃描模式避免密封面二次損傷,納米級(jí)精度可捕捉微小熱變形與沖蝕缺陷,實(shí)現(xiàn)平面度精準(zhǔn)測(cè)量。該技術(shù)可實(shí)現(xiàn)原位動(dòng)態(tài)測(cè)量,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)密封面平面度演變趨勢(shì),為閥門運(yùn)維提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支撐。

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(實(shí)測(cè)噴油器密封端面 平面度變形 0.35um)


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